現(xiàn)場抽查的優(yōu)缺點:
1.可根據(jù)您的關(guān)注點，快速輕松地進行測量
2.有助于確定理想的校準時間間隔
3.更好地了解測量儀表的運行狀況
4.改善測量質(zhì)量證明
5.需要適當?shù)囊?guī)劃、專業(yè)知識和記錄保持
現(xiàn)場抽查是確定工藝條件或固定安裝式測量儀表狀態(tài)的一種快速簡便的方法?，F(xiàn)場抽查不應與現(xiàn)場校準混淆。它們非常相似，同樣是將參考放置在待檢查的傳感器附近，并將讀數(shù)與已安裝儀表的讀數(shù)進行比較。現(xiàn)場抽查耗時較少，因為穩(wěn)定時間不像在現(xiàn)場校準中那么重要。
現(xiàn)場抽查是改進測量設(shè)備維護流程的好方法。例如，如果某個裝置每年在實驗室校準一次，它可能需要每三個月接受一次現(xiàn)場抽查。應該在開始現(xiàn)場抽查儀表之前定義準則，并且應該有預先確定的限制，以確定要根據(jù)結(jié)果可能采取哪些行動。
確定現(xiàn)場校準間隔:
校準間隔必須始終由最終用戶決定；不過，有一些一般準則可對您有所幫助。雖然遵循制造商的建議是很好的切入點，但也必須考慮相關(guān)應用的測量條件。良好的做法是先進行時間間隔較短較頻繁的校準，然后并逐步優(yōu)化校準時間間隔。手持式設(shè)備可讓您快速輕松地收集您需要的數(shù)據(jù)。
優(yōu)化現(xiàn)場校準時間間隔:
在執(zhí)行了多次校準之后，可以確定校準時間間隔。如果在12個月內(nèi)至少執(zhí)行了三次校準并且裝置保持在規(guī)格范圍內(nèi)，則可以延長校準時間間隔。延長后的校準間隔不應超過制造商對關(guān)鍵設(shè)備的建議時長。
如果待校準設(shè)備正與其他更穩(wěn)定的測量設(shè)備一起使用，或者，如果應用允許準確度低于制造商規(guī)格中針對正常校準間隔的規(guī)定，則也可以延長校準時間間隔。
不必要的調(diào)整可能會給您的測量增加干擾:
在決定是否對測量設(shè)備進行調(diào)整時，了解校準的不確定性至關(guān)重要。為此，有必要澄清校準和調(diào)整之間的區(qū)別。校準是指將儀表讀數(shù)與參考值進行比較。調(diào)整是指校正儀表，以盡量減小與校準參考值的偏差。校準不確定性的大小取決于多種因素，包括溫差、儀表的熱質(zhì)量和使用的測量技術(shù)。可能會經(jīng)常出現(xiàn)這樣的情況：參考和UUC的讀數(shù)都在不確定度范圍內(nèi)，但無法確定哪個讀數(shù)更準確。準確度誤差有很多種，通常很難區(qū)分系統(tǒng)誤差和隨機誤差。出于這個原因，進行微小調(diào)整可能并不明智，因為您最終可能會調(diào)整隨機誤差并因此給您的測量增加干擾。
